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影(yǐng)響電阻(zǔ)或電阻率測試(shì)的主要因(yīn)素

返回打印來(lái)源：儀(yí)天成電力時間(jiān)：2017/12/08 閱讀：次

   a．環(huán)境溫(wēn)濕度
    一般材料(liào)的電(diàn)阻(zǔ)值随(suí)環(huán)境溫濕度(dù)的升(shēng)高而(ér)減小。相對(duì)而言，表(biǎo)面電阻(zǔ)(率)對(duì)環境(jìng)濕度(dù)比較敏感，而(ér)體(tǐ)電阻(率)則(zé)對溫(wēn)度較為敏(mǐn)感。濕度增加，表面洩(xiè)漏增大，體(tǐ)電導電流(liú)也(yě)會增(zēng)加(jiā)。溫度升高，載流子的(de)運(yùn)動速率(lǜ)加快，介質材料(liào)的(de)吸(xī)收電流和(hé)電導電(diàn)流(liú)會(huì)相(xiàng)應增(zēng)加，據(jù)有關(guān)資料報道，一般(bān)介質(zhì)在70c 時(shí)的電阻值僅有(yǒu)20c 時的(de)10％。因此，測量(liàng)材料(liào)的電阻時(shí)，必須指明試(shì)樣與環(huán)境達(dá)到平衡的(de)溫(wēn)濕(shī)度。
    b．測試電(diàn)壓(電(diàn)場強度)
    介(jiè)質材(cái)料(liào)的電阻(zǔ)(率)值一般不能在很(hěn)寬的電壓範(fàn)圍内保持不(bú)變，即(jí)歐姆定律(lǜ)對此并(bìng)不(bú)适用(yòng)。常溫條(tiáo)件下，在(zài)較低(dī)的電(diàn)壓範(fàn)圍内(nèi)，電導(dǎo)電流(liú)随外加電(diàn)壓的(de)增加而線性增加，材(cái)料(liào)的電阻(zǔ)值保持不變。超(chāo)過(guò)一定電壓後(hòu)，由于離子化(huà)運(yùn)動加劇(jù)，電導電(diàn)流的(de)增加遠比(bǐ)測試電壓增加的快，ytc2880雙(shuāng)鉗口接(jiē)地電阻測試儀(yí)除了具有(yǒu)傳統(tǒng)打輔助地極測接地電(diàn)阻的功能外，還具備了(le)無輔助(zhù)地極測(cè)量的獨特(tè)功能(néng)，改變(biàn)了測試接(jiē)地電(diàn)阻傳統的(de)測量(liàng)原理(lǐ)和手(shǒu)段。材料呈現(xiàn)的(de)電阻(zǔ)值(zhí)迅速降(jiàng)低。由(yóu)此可見，外(wài)加測試電壓越(yuè)高，材料(liào)的電阻(zǔ)值越低，以緻在(zài)不同電(diàn)壓(yā)下測試得到的材料(liào)電阻值可(kě)能有較大(dà)的差别。
    值(zhí)得注意的(de)是，導(dǎo)緻材料電(diàn)阻值(zhí)變化(huà)的(de)決定因(yīn)素是測試時的(de)電(diàn)場強(qiáng)度，而不(bú)是測(cè)試電壓(yā)。對(duì)相同的(de)測試電壓，若測試電極(jí)之間(jiān)的距(jù)離不(bú)同，對材料(liào)電阻(zǔ)率的測試(shì)結果也将不同，正負(fù)電極(jí)之間(jiān)的距(jù)離越小，測試值也越小。
    c．測(cè)試時(shí)間
    用(yòng)一(yī)定的直(zhí)流電壓(yā)對(duì)被測材料加(jiā)壓時，被(bèi)測材料上的電(diàn)流不是瞬時達(dá)到穩定值的，而(ér)是有一衰減過(guò)程。在加(jiā)壓(yā)的同(tóng)時，流過較大的(de)充電電流，接着是比較(jiào)長(zhǎng)時(shí)間(jiān)緩慢減小(xiǎo)的吸收電流，達(dá)到比(bǐ)較平穩的(de)電導(dǎo)電流(liú)。被測電阻(zǔ)值越高，達到平衡的時間(jiān)則越(yuè)長。因此，測量時(shí)為了正确讀取(qǔ)被測電(diàn)阻(zǔ)值，應(yīng)在穩(wěn)定後(hòu)讀取(qǔ)數值或取(qǔ)加壓1 分鐘後的讀數(shù)值。
    另外，高絕緣(yuán)材(cái)料(liào)的電阻值(zhí)還與(yǔ)其帶電的曆史(shǐ)有關。為準(zhǔn)确評價材(cái)料的(de)靜電性能(néng)，在對(duì)材料進(jìn)行(háng)電阻(zǔ)(率)測(cè)試(shì)時，應首(shǒu)先對其進(jìn)行消(xiāo)電處理，并靜置(zhì)一定的時間，靜置時(shí)間可取5 分(fèn)鐘，然後，再按測量程(chéng)序測試。一(yī)般而(ér)言，對(duì)一種(zhǒng)材料(liào)的測試，至(zhì)少應随機抽取(qǔ)3～5 個試(shì)樣進行(háng)測(cè)試，以其平均值作為(wéi)測(cè)試結果(guǒ)。
    d．測試設備的洩漏
    在測試中，線(xiàn)路中絕緣(yuán)電阻(zǔ)不高(gāo)的連(lián)線，往(wǎng)往會不适(shì)當地(dì)與被測試樣、取(qǔ)樣電阻等并聯(lián)，對測(cè)量(liàng)結果可(kě)能帶(dài)來(lái)較(jiào)大的影響(xiǎng)。為此：
    為減(jiǎn)小測(cè)量誤差，應采用保(bǎo)護技術(shù)，在漏電流大的(de)線路(lù)上安裝保(bǎo)護導體，以基本(běn)消除雜散電流(liú)對測(cè)試(shì)結(jié)果的(de)影響(xiǎng)；
    高(gāo)電壓(yā)線由于表面電離(lí)，對地(dì)有一定洩(xiè)漏，所以盡量采(cǎi)用高(gāo)絕緣、大線(xiàn)徑的高壓(yā)導線(xiàn)作為高壓輸出(chū)線并(bìng)盡量(liàng)縮短(duǎn)連線(xiàn)，減少尖端(duān)，杜絕電(diàn)暈放電；
    采用聚(jù)乙(yǐ)烯、聚四氟乙烯(xī)等絕(jué)緣材料(liào)制作測(cè)試台(tái)和支(zhī)撐體(tǐ)，以避(bì)免由于該(gāi)類原因導(dǎo)緻測(cè)試值偏低。
    e．外界幹擾(rǎo)
    高絕(jué)緣材(cái)料加(jiā)上直流電(diàn)壓(yā)後，通過試樣(yàng)的電流是很微(wēi)小的(de)，極易受到(dào)外界幹(gàn)擾(rǎo)的影(yǐng)響，造成較大的測(cè)試誤差(chà)。熱電(diàn)勢、接觸電勢一(yī)般很小，可(kě)以忽略；電解電(diàn)勢主要是(shì)潮(cháo)濕(shī)試樣(yàng)與(yǔ)不同(tóng)金(jīn)屬接(jiē)觸産生的，大約(yuē)隻有20mv，況且(qiě)在靜電測試(shì)中均要(yào)求相對濕度較低，在(zài)幹燥環境(jìng)中測(cè)試時，可以(yǐ)消除(chú)電(diàn)解電勢(shì)。因此，外(wài)界(jiè)幹擾主要是雜(zá)散電(diàn)流的耦合(hé)或靜(jìng)電感應産生的電勢。在測試電流小(xiǎo)于10-10a 或測量電阻(zǔ)超過(guò)1011 歐姆時；被測試樣、測(cè)試電極和(hé)測試(shì)系統(tǒng)均(jun1)應(yīng)采取(qǔ)嚴格的屏(píng)蔽措施，消除外界幹(gàn)擾帶來的(de)影響(xiǎng)。

上一(yī)篇(piān)：雙(shuāng)鉗(qián)多功能接地(dì)電阻測試(shì)儀的主要(yào)特點下(xià)一篇：數字兆歐(ōu)表使用(yòng)說明

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